**Agilent E740**频谱分析仪
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主要特性与技术指标
性能
• 1 Hz 至 5 MHz（包括 200 Hz、9 kHz、120 kHz、1 MHz EMI 带宽）
• +12.5 dBm TOI
• ≤ 150 dBm 显示平均噪声电平（DANL）
• 可选（UKB）用于 100 Hz 低频
特性
• 对数扫描
• 内置前置放大器
• 可选的**发生器
• 标配选件：A4H、AYQ、B72、060、1DR、1DS
软件
• 兼容 E741** EMI 软件
• 兼容 BenchLink Web 远程控制软件
描述
即将停产，请查看关于替代产品的信息。
尽早测试设计的 EMI 性能对于打造成功的产品至关重要。E740** EMC 标准分析仪提供了您所需要的功能，使内部 EMI 预先一致性测试成为可能。
EMC 标准分析仪通过内置更多可以提高生产效率的选件并**快速交付，为您创造**大价值。
辐射发射
当与宽带天线配合使用时，E740** 能够检测您的被测件所散发的辐射发射。在没有反射目标的区域（例如开阔地）或 EMI室内，它的表现尤为出众。
传导发射
通过使用线路阻抗稳定网络（LISN）器件或功率吸收钳，将 E740** 仪器与电源线或数据线耦合，您可以对电源线或数据线产生的噪声或受到的干扰信号进行测量。
故障诊断和隔离
如果您遇到发射问题，可以使用 E740** 和近场探头来隔离和诊断故障源。
11940A 近场探头，30 MHz 至 1 GHz
11941A 近场探头，9 kHz 至 30 MHz
E740** 可以单独购买，或与 84115EM 预先一致性测试系统一起购买。
哪一款频谱分析仪**适合您？请使用“选型和比较”功能来购买特性或技术指标适合自己需求的频谱分析仪。